同步辐射成像板粉末衍射系统2004年8月中旬在中科院高能物理所研制成功。该系统利用北京同步辐射装置现有的成像板及其读出系统，由一个半圆形的成像板支架、狭缝组件、调节机构等组成，采集一个粉末衍射全谱只需几秒至分钟量级的时间，大大地节约了同步光机时，能够缓解同步光机时的供需矛盾。
X射线粉末衍射是常用的实验方法之一，通常采用步进的方式采集实验谱。这种方法的优点是具有足够的实验精度，但由于全谱采集时数据点较多，数据采集时间较长。通常一个粉末衍射谱要采集几千个数据点，完成一个衍射谱的数据采集时间和机械转动时间要几个小时。对于日益膨大的用户群体，同步光机时的短缺就显得更为突出，发展快速的粉末测量系统尤为重要。
科研人员比较了用常规的步进扫描方式和成像板采谱方式得到的衍射谱，样品为TiO2粉末。常规步进扫描方式采谱时间约为3小时，而成像板方式采谱时间只需3分钟。衍射谱的角分辨率大致相当。成像板方式的背底统计噪音略高于步进扫描方式。实验表明：这样一套同步辐射成像板粉末衍射系统具有良好的性能，完全能够代替常规的步进扫描方式采谱。由于这套系统在采谱时不需要任何机械的转动，今后可以方便地在其上添加其他设备，如高温加热装置。略加改造，并配合其他设备也可用于多种实验谱的同时测量，如宽角衍射和小角散射谱的同时测量。
